1.冷镜式露点仪

　　不同水份含量的气体在不同温度下的镜面上会结露。采用光电检测技术,检测出露层并测量结露时的温度,直接显示露点。镜面制冷的方法有:半导体制冷、液氮制冷和高压空气制冷。冷镜式露点仪采用的是直接测量方法,在保证检露准确、镜面制冷率和精密测量结露温度前提下,该种露点仪可作为标准露点仪使用。目前上zui高精度达到±0.1℃(露点温度),一般精度可达到±0.5℃以内。

　　2.电传感器式露电仪

　　采用亲水性材料或憎水性材料作为介质,构成电容或电阻,在含水份的气体流经后,介电常数或电导率发生相应变化,测出当时的电容值或电阻值,就能知道当时的气体水份含量。建立在露点单位制上设计的该类传感器,构成了电传感器式露点分析仪。目前上zui高精度达到±1.0℃(露点温度),如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING,CERMX II、一般精度可达到±3℃以内。如MICHELL公司EAS-TX-80,EAS-TX-100,EA2-TX-100-HD,MDM300,EASIDEW PRO IS等,还有VAISALA公司的DMT242、DMT143,DMT340系列。

　　3.电介法露点仪

　　利用五氧化二磷等材料吸湿后分解成极性分子,从而在电极上积累电荷的特性,设计出建立在含湿量单位制上的电解法微水份仪。目前上zui高精度达到±1.0℃(露点温度),一般精度可达到±3℃以内。此种方式对气体的洁净要求比较高,可测腐蚀性气体,德国有一家公司有做,目前国内应用不多。

　　4.晶体振荡式露点仪

　　利用晶体沾湿后振荡频率改变的特性,可以设计晶体振荡式露点仪。这是一项较新的技术,目前尚处于不十分成熟的阶段。国外有相关产品,但精度较差且成本很高。

　　5.红外露点仪

　　利用气体中的水份对红外光谱吸收的特性,可以设计红外式露点仪。目前该仪器很难测到低露点,主要是红外探测器的峰值探测率还不能达到微量水吸收的量级,还有气体中其他成份含量对红外光谱吸收的干扰。但这是一项很新的技术,对于环境气体水份含量的非接触式在线监测具有重要的意义。如美国米科公司的都挺好。

　　6.半导体传感器露点仪

　　每个水分子都具有其自然振动频率,当它进入半导体晶格的空隙时,就和受到充电激励的晶格产生共振,其共振频率与水的摩尔数成正比。水分子的共振能使半导体结放出自由电子,从而使晶格的导电率增大,阻抗减小。利用这一特性设计的半导体露点仪可测到-100℃露点的微量水份。